斜入射下电离层闪烁对GEO SAR成像影响分析

摘要：

本文基于多相位屏理论，研究了电离层闪烁对GEO SAR成像的影响。首先针对电离层各向异性的特点，修正了各向异性电子密度起伏的功率谱，并重新推导了斜入射条件下随机介质中的电磁波传播方程，改进了传统的基于垂直入射和各向同性电离层条件下的多相屏仿真方法，然后结合典型GEO SAR参数，分析了电离层闪烁对GEO SAR成像的影响。最后，通过Monte Carlo仿真，给出了不同电离层电子密度起伏条件下GEO SAR进行合成孔径处理的最优积累时间。分析结果表明，相同GEO SAR系统配置下，电离层闪烁的起伏越大，合成时间越长，GEO SAR成像质量越差，甚至会出现无法聚焦的情况。

关键词：GEO SAR、多相位屏、电离层闪烁、成像

分类号：TN95

资助基金：国家自然科学基金资助61225005，61120106004

在线出版日期：2015-03-30（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共7页

页码：226-232