热性惊厥患儿日后癫痫发生与其临床和脑电图特征的关系探讨

摘要：

目的：探讨热性惊厥(FS)患儿日后癫痫发生与其临床和脑电图(EEG)特征的关系。方法对本院收治的145例FS患儿的临床资料和EEG特征进行检查，并分析其与日后癫痫发生的相关性。结果145例FS患儿中， EEG结果显示正常患儿93例(64.13％)；异常患儿52例(35.86％)。患儿出现EEG异常与年龄、FS家族史、发热温度、持续时间、FS类型以及24h内发作次数有关。EEG异常患儿日后发生癫痫39例，发生率为75％。此外EEG显示异常日后发生癫痫患儿中，15例额区放电日后发生癫痫14例(93.33％)，19例枕区放电16例(84.21％)发生癫痫，13例Rolandic区放电8例(61.54％)发生癫痫，5例广泛性棘慢波者日后发生癫痫的有1例(20％)。结论 EEG检查异常的FS患儿中，中枕区和额区阵发性异常放电者更容易日后发生癫痫，在临床应该引起足够的重视。

关键词：热性惊厥、癫痫、脑电图特征

所属期刊栏目：27

分类号：R742.1(神经病学与精神病学)

在线出版日期：2016-08-05（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共2页

页码：1981-1982