基于概率统计的物理地址与逻辑地址映射关系提取方法

摘要：

针对从单粒子翻转(SEU)实验数据中提取多单元翻转(MCU)信息时缺少物理地址与逻辑地址映射关系的问题,提出一种基于概率统计的物理地址与逻辑地址映射关系提取方法.通过逐位对比所有包含MCU信息的SEU数据的逻辑地址,统计逻辑地址间不同逻辑位的个数和位置,并分析逻辑位出现的频次,可得到物理地址和逻辑地址之间的映射关系.用重离子试验数据对该方法进行验证,结果表明,该方法能够获取MCU信息提取中最重要的地址映射信息,与逆向工程相比,能在不明显降低MCU提取精度的情况下,节省研究时间和经费.

关键词：概率统计、地址映射关系提取、单粒子翻转、多单元翻转

所属期刊栏目：11

分类号：TN386.1(半导体技术)

资助基金：国家自然科学基金资助项目;强脉冲辐射环境模拟与效应国家重点实验室资助项目

在线出版日期：2020-07-20（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：22-26