γ射线和可见光耦合输运方法在PHEN程序中的实现与验证

摘要：

基于粒子输运蒙特卡罗模拟程序PHEN,建立了一种用于模拟γ射线入射闪烁晶体全响应过程的耦合输运计算方法.利用此方法对γ射线入射锗酸铋(BGO)晶体的响应过程进行了模拟计算,得到了能量为0.5～10.0 MeV的γ射线在BGO晶体上的沉积能量、BGO晶体的相对灵敏度以及1 MeVγ射线产生的可见光光子数分布,并将计算结果与用MCNP程序计算的结果及BGO晶体的发射光谱进行了对比分析.结果表明,用两种程序计算的沉积能量的差异小于1％,PHEN程序中经过耦合输运得到的可见光光子数分布与BGO晶体的相对发光特性符合较好,验证了本文方法的合理性和可靠性,为闪烁体探测器参数设计及优化提供了一种有效的数值模拟方法.

关键词：闪烁体、蒙特卡罗、锗酸铋、PHEN、可见光

所属期刊栏目：8

分类号：TL812(粒子探测技术、辐射探测技术与核仪器仪表)

资助基金：强脉冲辐射环境模拟与效应国家重点实验室基金资助项目SKLIPR1504

在线出版日期：2017-11-30（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：14-18