质子单粒子效应实验束流诊断中的SEEM研制

摘要：

针对目前我国急需开展质子单粒子效应辐照实验的需求,研制了适用于质子束流注量率监测的次级电子发射监督器(secondary-electron emission monitor,SEEM).测试结果表明,SEEM在监测注量率为109～1010 cm-2·s-1的质子束流时,其电流与注量率间的线性相关性很好,可应用于质子单粒子效应实验束流诊断.同时,测量了不同质子能量下铝的次级电子发射系数,测量值与理论计算结果吻合较好.

关键词：SEEM、质子单粒子效应、束流诊断

所属期刊栏目：6

分类号：O571.1(原子核物理学、高能物理学)

在线出版日期：2015-11-25（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：151-154