运算放大器CA3140瞬时电离辐射效应正交实验研究

摘要：

在“强光一号”上对BiMOS工艺运算放大器CA3140进行了瞬时电离辐射效应正交实验,研究了不同因素对CA3140输出端瞬时电离辐射扰动恢复时间的影响,得到了不同因素对恢复时间产生影响的主次顺序和显著水平,以及运算放大器在瞬时电离辐射环境下的最坏因素组合.

关键词：正交设计、瞬时电离辐射效应、BiMOS、恢复时间

所属期刊栏目：4

分类号：TN431(微电子学、集成电路（IC）)

在线出版日期：2014-06-12（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共6页

页码：207-212