10.3969/j.issn.2095-6223.2013.02.018
运算放大器CA3140瞬时电离辐射效应正交实验研究
在“强光一号”上对BiMOS工艺运算放大器CA3140进行了瞬时电离辐射效应正交实验,研究了不同因素对CA3140输出端瞬时电离辐射扰动恢复时间的影响,得到了不同因素对恢复时间产生影响的主次顺序和显著水平,以及运算放大器在瞬时电离辐射环境下的最坏因素组合.
正交设计、瞬时电离辐射效应、BiMOS、恢复时间
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TN431(微电子学、集成电路(IC))
2014-06-12(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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