G.652.D光纤谱衰减模型的构建与研究

摘要：

谱衰减模型法作为GB/T 15972.40中B类光纤衰减的替代测试方法,并未得到广泛应用.我司收集181盘不同厂家的G.652.D光纤,利用PK2200分别测试出181盘光纤的衰减谱数据,利用181盘数据构建出多个谱衰减模型矩阵,并对构建出的矩阵进行了精度分析.实验结果表明,利用181盘光纤构建的谱衰减模型精度较高,由1310nm、1383nm、1550nm、1625nmnm矩阵的精度最高,适宜在商业环境中使用.

关键词：谱衰减模型;衰减谱;G.652.D光纤

在线出版日期：2021-08-25（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

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