弯曲损耗不敏感单模光纤宏弯谱损耗测试分析

摘要：

本文通过实验的方法分析比较了G.657光纤宏弯性能测试中可能的Whispering gallery modes在不同测试条件下对测试结果的影响,报告了在宏弯损耗测试中根据需要采用绕多圈方法以增强宏弯损耗测试的响应效果,以减小Whispering gallery mode对测试结果影响的方法.

关键词：弯曲不敏感单模光纤、宏弯损耗、Whispering gallery modes

分类号：TN2;TN6

在线出版日期：2014-09-24（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共3页

页码：63-65