氢氧化钙类根管糊剂的微渗漏研究及扫描电镜观察

摘要：

目的 液体转移法评价氢氧化钙类根管糊剂的根管微渗漏,扫描电镜观察糊剂在根管内的微观特征.方法 22颗人上颌前牙随机分为2组:A组(Vitapex)和B组(国产根管充填剂),逐部后退法根管预备后根管侧压充填.每组8个样本装入液体转移法装置进行微渗漏实验,3个样本用于扫描电镜观察.结果 A组微渗漏值为(9.878±1.688)×10-4μl/cmH2O/min-1;B组微渗漏值为(11.253±3.205)×10-4μl/cmH2O/min-1.两组间无统计学差异.A组牙本质和根充物间存在间隙;B组根充物颗粒之间存在缝隙.结论 两种氢氧化钙类根管糊剂的根管微渗漏无明显差异.

关键词：液体转移法、根管充填剂、根管微渗漏、扫描电镜

所属期刊栏目：23

分类号：R781.05(口腔科学)

资助基金：杭州市科技局社会发展专项基金20080333B06

在线出版日期：2009-11-20（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共3页

页码：491-493