基于近红外高光谱图像的苹果轻微损伤检测

摘要：

针对苹果轻微损伤时，基于可见光的机器视觉方法难以有效检测的缺点，开展了近红外高光谱图像的苹果轻微损伤检测研究。首先，用900～1700 nm近红外波段范围对轻微损伤苹果高光谱成像，图像显示损伤部分与正常部分区别明显。其次，采用特征波段比方法和不均匀二次差分方法对损伤苹果光谱图像进行处理，增强损伤处与正常位置的可分性。最后，利用3种分割方案，对损伤部分进行自动分割。对50个含轻微损伤和正常的苹果进行分割，实验结果表明，不均匀二次差分方法的损伤检测准确率为92％，比主成分分析法和波段比方法具有更高的检测准确率，为轻微损伤苹果的准确检测提供了一种新的方法。

关键词：高光谱图像、轻微损伤、苹果缺陷检测、波段比、不均匀二次差分

分类号：TP391.41(计算技术、计算机技术)

资助基金：国家自然科学基金资助项目61003151；中央高校基本科研业务费专项基金资助项目QN2013055，QN2013062；国家级大学生创新创业训练计划资助项目1210712132．

在线出版日期：2013-09-27（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：356-360