基于单片机的复杂工件几何参数的测控系统设计

摘要：

此测控系统在基于单片机基础上,对测量复杂工件的几何参数的测量仪器进行控制,在此系统控制下,可在工件一次安装下自动测量工件的多项几何参数,测量极限误差远小于被测几何参数公差的1/10,测量一件工件只需40余秒.文中简述了测控系统的结构、工作原理.

关键词：几何参数、测量仪、单片机、测控系统

分类号：TP3(计算技术、计算机技术)

在线出版日期：2004-02-06（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共2页

页码：3-3,8