基于X射线图像的PCB缺陷检测系统

摘要：

针对PCB内部缺陷检测速度慢、精度低的问题,提出一种基于X射线图像的PCB缺陷检测系统.该系统算法对YOLOv7进行改进,在Neck区域设计一种高效的特征提取模块,优化Neck区域网络结构,降低模型复杂度.在多尺度特征融合模块引入ACmix注意力机制,增加不同尺度目标特征的权重.将SIoU作为边框损失函数,提高网络的定位能力.实验结果表明:所提系统算法在测试集上的平均准确度均值(mAP)达到了92.8%,比YOLOv7算法提高4.6%;检测速度提升25%,模型计算量降低29%,面对复杂场景具有较强的鲁棒性,能够满足实际工业检测的需求.

关键词：印刷电路板(PCB)、缺陷检测系统、X射线图像、YOLOv7算法、多尺度融合、损失函数

所属期刊栏目：46

分类号：TN41-34;TP391.4(微电子学、集成电路（IC）)

资助基金：国家自然科学基金;广东省自然科学基金项目

在线出版日期：2023-09-27（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共8页

页码：25-32