一种基于STM32的ADC数据采集系统设计

摘要：

电池管理系统芯片是当前的主流芯片之一,其中ADC模块发挥着重要的作用.ADC静态参数中的INL和DNL是测评ADC性能的重要指标,但使用专业设备测试INL和DNL成本过高,因此开发价格低廉的测试板替代专业设备的需求日益显著.为此,文中设计一种价格低廉的ADC静态参数测试系统.首先,阐述测试系统的基本实现原理;然后,从硬件系统和软件系统两个方面进行具体设计.实验测试结果表明,所设计系统可靠性高且成本低廉,可用于电源管理芯片ADC模块的INL和DNL参数测试.

关键词：数据采集系统、SAR-ADC、STM32处理器、测试系统、信号发射器、CAN通信

所属期刊栏目：46

分类号：TN711-34;TP311(基本电子电路)

资助基金：湖北省高等学校优秀中青年科技创新团队计划项目T201907

在线出版日期：2023-05-22（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共7页

页码：47-53