一种基于JTAG的片内调试系统设计

摘要：

为了给芯片设计提供一种高效方便的调试方法,提出一种基于JTAG的片内调试系统.该系统包括调试系统控制模块、断点产生模块和JTAG接口.JTAG接口实现调试指令的发送与接收;断点产生模块是调试系统硬件调试的逻辑单元;调试系统控制模块则实现断点设置、单步运行、内存调试等功能.不同的调试指令可根据不同的硬件结构自动完成其各自的处理流程,而且不同的工作模式之间可以自由切换.该片内调试系统表现出了高性能,便于操作的特点,已经通过了实际的芯片测试.

关键词：片内调试系统、系统设计、JTAG、调试指令、调试流程、模式切换

所属期刊栏目：43

分类号：TN911-34

资助基金：陕西省教育厅项目:一种通用的片上嵌入式调试系统研究资助17JK0708

在线出版日期：2020-10-26（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共3页

页码：31-33