基于SVM与改进D-S理论电路板故障诊断算法

摘要：

为了解决传统电路板故障诊断方法耗时长、难度大、准确度不高的问题,该文充分利用不同检测设备提供的电路板故障特征信息,提出基于支持向量机(SVM)与改进D-S证据理论相结合的电路板故障诊断算法.首先,将各证据体提供的故障数据输入SVM诊断模块,获取该证据体对各个故障模式的可靠度与加权系数;其次,利用"一对一"SVM多分类方法构造证据体对各个故障模式的基本概率分配;最后,对基本概率分配进行加权处理,完成基于D-S理论的多信息融合,获得故障诊断结果.实验结果表明,所提算法可以有效降低各证据体对诊断结论的冲突,增强正确诊断结果的信度,显著提高故障诊断准确率.

关键词：故障诊断、电路板故障、SVM、D-S证据理论、概率分配加权、信息融合、实验分析

所属期刊栏目：42

分类号：TN431.1-34;TP301.6(微电子学、集成电路（IC）)

资助基金：国家自然科学基金委员会与中国民用航空局联合资助项目U1733119;中央高校基本科研业务费项目中国民航大学专项资助3122017045

在线出版日期：2019-12-04（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共6页

页码：15-20