密集环境下无源超高频系统RFID标签识别性能研究

摘要：

密集环境中标签间互耦效应会对标签识别性能产生重要影响.该文以密集环境下超高频射频识别系统中的无源双标签为研究对象,基于天线散射理论并利用高频电磁场仿真软件HFSS分析不同标签间距下互耦模型的输入阻抗,以及标签天线在不同负载条件下的单站雷达散射截面RCS,得到密集环境下标签天线的最大识别距离,并通过实验验证了计算结果.研究结果将有助于优化标签天线设计,提高密集环境下的标签识别性能.

关键词：射频识别、无源标签、密集环境、互耦效应、雷达散射截面、最大识别距离

所属期刊栏目：42

分类号：TN975-34

资助基金：湖北省教育厅优秀中青年科技创新团队计划项目T201607;国家自然科学基金面上项目资助51775388

在线出版日期：2019-07-26（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：18-21,26