基于M-Sift特征的元器件目标检测及其在点胶机中的应用

摘要：

针对工业生产线上自动点胶机、产品质量检测或自动焊接等任务的需求,提出一种基于改进的Sift(M-Sift)特征的目标检测算法.所提算法以图像块为基本匹配单位代替Sift特征的关键点检测,图像块的特征提取采用M-Sift特征,既提高了计算效率又保持了Sift特征的优势.对大量、多种类的目标检测和定位实验表明,提出的基于M-Sift特征的目标检测与定位算法达到了很高的性能,优于传统基于模型的目标定位和识别方法.

关键词：Sift特征、M-Sift特征、目标检测、目标定位、相关匹配、点胶机

所属期刊栏目：41

分类号：TN710-34;TP75(基本电子电路)

资助基金：国家自然科学基金资助项目61662047

在线出版日期：2018-12-26（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：153-156