一种与2D物理设计流程兼容的3D测试基准电路的生成系统

摘要：

提出一种与2D物理设计流程兼容的3D测试基准电路生成系统,并以IBM-PLACE测试基准电路为测试试例做了转换实验,提供一套3D测试基准电路.通过此系统,可以根据输入文件的不同,自动转换为对应的Bookshelf库文件或者DEF库文件,实现物理设计库中的电路的互联线网连接信息,标准单元尺寸、端口信息,标准单元坐标信息以及布局信息自动转换.可以将任意2D电路设计转换为3D测试基准电路,并且兼容2D集成电路的物理设计流程,可在传统物理设计EDA工具中布局布线.最终,可以实现自定制的3D测试基准电路.

关键词：DEF库、Bookshelf库、测试基准电路、自定制、3D集成电路

所属期刊栏目：40

分类号：TN431.2-34(微电子学、集成电路（IC）)

资助基金：北京市自然科学基金4152004;国家自然科学基金61204040

在线出版日期：2018-01-09（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：5-8