基于神经网络的功率模块开关损耗预测

摘要：

功率半导体器件的开关损耗的准确预测和评估对研究系统设计、选择合适的散热系统和提高系统的可靠性都是很重要的。采用功率半导体器件的开关动态测试系统，可以自动调整直流母线电压、集电极电流、门极驱动电压和开关频率，记录开关动态电压、电流波形，计算获得大量的损耗数据。通过建立人工神经网络模型对开关损耗预测，并改变模型参数进行分析与研究，获取最佳模型。

关键词：功率模块、开关损耗、神经网络、损耗预测

所属期刊栏目：39

分类号：TN926-34

资助基金：国家科技支撑计划2015BAA09B01；国家自然科学基金资助项目51377044；河北省科技计划项目14214503D；13214303D

在线出版日期：2016-11-09（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：101-103,107