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10.16652/j.issn.1004-373x.2016.18.035

DC绝缘阻抗测试仪的设计与实现

引用
针对电子电气等产品在生产过程中需进行DC绝缘阻抗测试的要求,设计并实现了一种基于Cortex?M3的DC绝缘阻抗测试仪。该测试仪以Cortex?M3作为核心控制器,配置DC高压产生电路、信号采集调理电路和LCD显示电路,从而达到对产品进行实时有效绝缘阻抗测试的目的。经实验证明,该测试仪能进行1 MΩ~10 GΩ的绝缘阻抗测量,且具有输出功率大、测量精度高等优点,可广泛应用于各类电子、电气等产品生产企业。

绝缘阻抗、Cortex-M3、直流高压、阻抗测试仪

39

TN624+.1-34;TM855(电子元件、组件)

国家“973”计划项目2013CB834305;广东省自然科学基金S2012010010306

2016-10-18(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)

共4页

139-141,145

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现代电子技术

1004-373X

61-1224/TN

39

2016,39(18)

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