10.16652/j.issn.1004-373x.2016.14.009
一种星载NAND FLASH板级功能快速验证设计
传统板级硬件功能验证方法使用示波器或逻辑分析仪对引出管脚进行测试,灵活性差,不适用于星载大容量NAND FLASH存储阵列。提出一种通过FPGA控制NAND FLASH复位和读ID操作,并自动遍历所有存储芯片的方法,配合ChipScope Pro工具在线仿真,实现星载NAND FLASH板级功能快速验证。实验结果表明,该方法简单有效,并可根据仿真验证结果快速做出板级功能有效性判断。
NAND FLASH、星载存储器、硬件功能验证、ChipScope、并行扩展
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TN911-34;TP319
中国科学院空间科学战略性先导科技专项KX-4
2016-08-02(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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