基于ISO14443A协议的RFID集成电路芯片测试系统的研究设计分析

摘要：

基于ISO14443A协议的RFID集成电路芯片测试系统的设计研究对改善当前ATE的高成本、性能浪费等现象有积极意义。基于ISO14443A协议，利用RFID集成电路芯片设计了一个系统，从软硬件两个方面进行设计调试，并配合优化方案解决设计问题，最终结果表明设计系统运行效果佳，稳定性好，对于工业集成电路芯片测试系统的研究有一定价值。

关键词：集成电路芯片测试系统、设计、ISO14443A协议、RFID集成电路

分类号：TN06-34(一般性问题)

在线出版日期：2014-09-11（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共3页

页码：97-99