10.3969/j.issn.1004-373X.2014.09.012
密集阅读器环境下RFID系统识别性能研究
密集阅读器环境下的同信道干扰将显著降低阅读器识别性能,基于Nakagami-m多径信道模型和最大比合并(MRC)算法,推导了多天线分集RFID系统反向识别距离的数学期望值闭合表达式,并遵循ISO18000-6C标准的空口参数进行数值仿真,验证了推导的结论。
射频识别、同信道干扰、多天线分集、空口参数
TN015-34(一般性问题)
国家自然科学基金面上项目61377024;湖南省教育厅科学研究项目12C0917
2014-05-15(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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