无源RFID标签芯片灵敏度测试方法研究

摘要：

提出一种测试UHF频段无源RFID标签芯片灵敏度的方法.该方法依据矢量网络分析仪和标签测试仪接口特性阻抗相同的特性,利用矢量网络分析仪测试标签芯片的反射系数,然后通过标签测试仪测试芯片和仪器接口的匹配损耗,进而计算标签芯片的灵敏度.利用该方法对NXP_G2XM芯片和Impinj_Monza3芯片在800～1 000 MHz频段内灵敏度进行测试,并将测试结果与datasheet进行对照,分析误差产生的原因,最终证明此方法的准确性.该测试方法采用常规仪器对800～1 000 MHz频段内灵敏度进行测试,有重要实际意义.

关键词：灵敏度、RFID、UHF、标签芯片、IC

所属期刊栏目：34

分类号：TN492-34(微电子学、集成电路（IC）)

在线出版日期：2012-03-30（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共3页

页码：182-184