PN结二极管散粒噪声测试方法研究

摘要：

针对散粒噪声难以测量的特点,提出了一种低温散粒噪声测试方法.在屏蔽环境下,将被测器件置于低温装置内,有效抑制了外界电磁波和热噪声的干扰,采用背景噪声充分低的放大器以及偏置器、适配器等,建立低温散粒噪声测试系统.应用该系统对PN结二极管进行散粒噪声测试,得到了很好的测试结果.

关键词：散粒噪声、扩散电流、低温装置、PN结

所属期刊栏目：34

分类号：TN407-34(微电子学、集成电路（IC）)

在线出版日期：2012-03-30（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共3页

页码：162-164