基于MSP430单片机的温度测量实验设计

摘要：

介绍了一种基于MSP430单片机的测温实验,用此实验可代替教学中传统的热敏电阻结合电流表的测温实验.该实验采用热敏电阻和斜率A/D转换来测量温度,并由液晶显示屏显示出来.通过该实验可以使学生更好的掌握传感器、单片机、集成电路以及计算机语言等现代科学技术.

关键词：MSP430、温度测量、斜率A/D、液晶显示

所属期刊栏目：34

分类号：TN710-34(基本电子电路)

资助基金：教育部高教研究所BIA010092-C05

在线出版日期：2012-03-30（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共2页

页码：136-137