基于LabVIEW的集成电路测试分析仪

摘要：

为满足高校实验室对数字集成芯片的测试需求,利用LabVIEW软件和单片机技术,设计实现了集成电路测试分析仪.与常见的集成电路测试仪相比,系统的特色在于依托LabVIEW强大的数据分析和图形显示功能,不仅能完成常规74系列芯片的功能测试,还提供了任意输入数据编辑和波形显示功能,有利于初学者准确掌握和深入理解芯片的逻辑功能.设计中利用SN754410设计了管脚上电电路,使用USB/串口转换电路实现上位机与控制器间通信.实验表明,系统功能测试正确,运行稳定,波形图显示直观便捷,为芯片测试和数字逻辑验证提供了有力工具.

关键词：集成电路测试、LabVIEW、SN754410、USB/串口转换电路

所属期刊栏目：34

分类号：TN919.72-34

在线出版日期：2012-01-15（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：158-160,164