基于遗传算法斜向探测电离层参数反演研究

摘要：

斜向探测是电离层探测的主要方式之一,它能够获得电波传播群时延和频率关系的电离图.由于传输信号的媒质是电离层,因此斜测电离图包含了收发站之间电离层状态信息,通过对斜测电离图的反演可以提取电离层的状态信息.利用遗传算法,对斜向探测电离层参数进行了反演,获得了较好的结果,展示了该方法在电离层参数反演研究中的优点和实际应用前景.结果证明该方法具有一定的抗噪能力,具有良好的应用价值.

关键词：遗传算法、电离层、反演、斜向探测

所属期刊栏目：31

分类号：TP18(自动化基础理论)

在线出版日期：2008-12-08（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共3页

页码：16-18