10.3969/j.issn.1004-373X.2008.04.003
基于故障注入的基准电路故障响应分析
为了提高集成电路的成品率,试图采用更简便有效的方法测试芯片,并获得反映电路特性的故障响应率,在进行电路功能仿真(前仿真)或电路时序仿真(后仿真)的过程中,对电路注入单故障或多故障,然后在电路存在故障的情况下,模拟电路的行为,获得电路的故障响应率.实现了一个通用的数字电路"故障响应分析"程序,他模拟电路注入故障,收集模拟结果,通过分析获取电路的故障响应率.
集成电路、故障响应率、单故障、双重故障
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TN710(基本电子电路)
2008-05-04(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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