10.3969/j.issn.1004-373X.2008.02.048
红外焦平面阵列非均匀校正算法的ASIC设计
红外焦平面阵列响应率的非均匀性是制约红外成像质量的主要因素.考虑实时处理的需要,基于温度定标两点校正法,进行ASIC设计.在阐述芯片结构基础上介绍各种模式功能.ASIC设计具有实时性好、体积小、性价比高的优点,适用于红外成像系统进行高速实时处理.最后给出在具有自主知识产权SoC芯片Garifield4上的算法验证结果.
红外焦平面阵列、非均匀性校正、ASIC、两点法
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TP274(自动化技术及设备)
2008-05-05(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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