10.3969/j.issn.1004-373X.2007.24.070
数字系统电平敏感扫描设计研究
在复杂电子系统中对数字系统工作的可靠性要求越来越高,因此提高数字系统的可测试性变得尤为重要.要提高数字系统的可测性,就需要设计人员在设计系统的同时考虑到测试的要求,目前常采用的方法是结构设计.电平敏感扫描设计在结构设计中使用较为普遍,针对电平敏感扫描设计法进行了研究.
数字系统、可测试设计、电平敏感扫描、电子系统
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TP331.1(计算技术、计算机技术)
2008-03-27(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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