10.3969/j.issn.1004-373X.2007.22.015
基于SoC芯片测试结构的研究
由于芯片规模的快速增长,给测试技术带来了新的挑战.结合系统芯片SoC测试结构的描述,对其核心部分测试外壳Wrapper和测试访问机制TAM做了论述,介绍了几类典型的测试访问机制TAM,分析其特点.同时对SoC的测试规划问题进行了讨论,指出了目前SoC测试面临的问题.
SoC、测试外壳Wrapper、TAM、测试规划
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TP368.4(计算技术、计算机技术)
2008-01-07(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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