基于ATPG的无线接入芯片的可测试性设计

摘要：

可测试性设计是现代芯片设计中的关键环节,针对无线接入芯片的可测试性设计对测试技术有更高的要求.首先概述可测试性设计和测试向量自动生成理论,然后采用最新的测试向量自动生成技术,根据自行设计的无线接入芯片的内部结构及特点,建立一套无线接入芯片可测试性设计的方案.同时功能测试向量的配合使用,使得设计更为可靠.最终以最简单灵活的方法实现了该芯片的可测试性设计.

关键词：DFT、扫描链、ATPG、stuck-at

所属期刊栏目：29

分类号：TP274+.5(自动化技术及设备)

在线出版日期：2007-01-10（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：117-119,122