功能测试矢量的重排与测试时间的压缩

摘要：

对于集成电路测试而言,测试时间与成本直接相关,减少测试所需的时间意味着测试成本的降低.对于大型的测试矢量集,由于ATE存储器大小的限制,无法一次装载所有的测试矢量,需要多次的load-unload过程,从而浪费了大量的时间.通过测试矢量顺序的优化可以有效地减少重载次数而大大降低测试所需时间.应用模拟退火算法可以对测试矢量顺序进行全局的优化,得到该问题的近似最优解.

关键词：测试时间、ATE、测试矢量顺序、模拟退火算法

所属期刊栏目：29

分类号：TN431.2(微电子学、集成电路（IC）)

在线出版日期：2006-04-13（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共3页

页码：82-83,89