微处理器系统功能测试

摘要：

针对微处理器系统测试问题,提出了一种全新的功能测试方法.详细介绍了该方法的硬件组成和测试生成.该方法以结构故障模型为基础,将数字电路故障分为3大类6种故障,分别为固定型故障、开路型故障和短路型故障3种,其中固定型故障又可分为固定0和固定1两种,开路故障分为开路为0、开路为1以及开路为Z三种.为了验证该方法的有效性,本文针对一块以MC6800为微处理器的电路板进行了测试程序开发.实验结果表明,故障覆盖率取得了满意的结果.

关键词：微处理器系统、功能测试、故障覆盖率、结构故障模型

所属期刊栏目：28

分类号：TP301.6(计算技术、计算机技术)

资助基金：国家重点实验室基金

在线出版日期：2005-06-09（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共3页

页码：108-110