探究不同处理工艺对X射线荧光光谱法测定银含量的影响

摘要：

通过采用X射线荧光光谱法与电位滴定法对不同处理工艺的银合金进行检测,探究不同处理工艺对X射线荧光光谱法检测银合金的影响,以确认X射线荧光光谱法在银饰品上的应用.经实验分析表明,X射线荧光光谱法在开展不同工艺银合金的检测时,其检测结果受镀层厚度与镀层组分影响,甚至会造成误判,但通过打磨处理可消除其影响.

关键词：X射线荧光光谱法、镀层、银饰品

所属期刊栏目：27

分类号：O434.13(光学)

在线出版日期：2020-04-10（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：8-11