10.16428/j.cnki.cn10-1469/tb.2019.01.005
国产CCD质子辐照的失效机理研究
针对国产XXX型CCD,开展了10MeV质子辐照损伤试验研究.本文介绍了质子辐照试验方法,分析了CCD在不同状态下质子辐照试验的损伤机理,确定了暗信号幅度为其敏感参数,并对暗信号的退化机理进行了分析.
质子辐照、CCD、失效机理
27
TB96(计量学)
2019-08-22(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
共4页
16-19
点击收藏,不怕下次找不到~
10.16428/j.cnki.cn10-1469/tb.2019.01.005
质子辐照、CCD、失效机理
27
TB96(计量学)
2019-08-22(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
共4页
16-19
国家重点研发计划“现代服务业共性关键技术研发及应用示范”重点专项“4.8专业内容知识聚合服务技术研发与创新服务示范”
国家重点研发计划资助 课题编号:2019YFB1406304
National Key R&D Program of China Grant No. 2019YFB1406304
©天津万方数据有限公司 津ICP备20003920号-1
违法和不良信息举报电话:4000115888 举报邮箱:problem@wanfangdata.com.cn