X荧光镀层厚度测量条件选择及方法研究

摘要：

本文对影响X荧光镀层厚度测量的测量条件(准直器、测量时间、测量程式、镜头对焦方式)和测量方法(有无标准片校准及不同校准方法)进行分析并分组实验,通过对测量结果的研究以选择合适的测量条件和测量方法来提高X荧光镀层厚度测量的准确性和可靠性.

关键词：X射线荧光测厚仪、测量条件、测量方法

所属期刊栏目：19

分类号：O434(光学)

在线出版日期：2011-09-22（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：7-9,11