普通型与矮生型梨叶片显微结构比较

摘要：

应用扫描电镜和石蜡切片方法,对普通型和矮生型梨叶片的显微结构进行比较分析.结果表明:普通型和矮生型梨的叶片上表皮均有大量蜡质分布,气孔均分布在叶片下表皮,而矮生型蜡质层更厚.普通型和矮生型梨气孔器平均长轴×短轴分别为25.42 μm×19.39 μm和29.52 μm×16.85 μm,气孔平均长×宽分别为17.73 μm×5.37 μm和20.59 μm×4.07 μm;普通型和矮生型梨的叶片厚度平均值分别为196.35和227.99 μm,栅栏组织厚度平均值分别为54.93和79.13 μm,栅栏组织/海绵组厚度比平均分别为0.80和1.16.可见,野生型梨的叶片表皮蜡质层更厚,气孔更狭长,开度更小,叶片厚度和栅栏组织厚度显著较大,栅海比大于1,表现出抗旱耐寒的叶片结构特征.

关键词：梨、普通型、矮生型、电镜扫描、石蜡切片

所属期刊栏目：30

分类号：Q944.56(植物学)

资助基金：山东良种产业化工程项目

在线出版日期：2010-10-12（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：1584-1588