静电放电引发嵌入式软件故障的等效实验预测方法

摘要：

对于电子设备的正常运行,静电放电有时是一种严重威胁.目前,由静电放电造成的大多数硬件故障问题可以在产品设计阶段进行规避.但静电放电引发的嵌入式软件故障,因其偶发性、突发性、隐蔽性等特点,依然是一项业界难题.将目前发现的嵌入式软件故障进行分类,并提出了一系列软件故障的等效实验监测方法.通过方法探究和大量实验佐证,力图从这些监测方法中寻求静电放电引发嵌入式软件故障的等效实验预测方法.

关键词：嵌入式软件测试、静电放电、实验设计、WiFi

所属期刊栏目：36

分类号：V221+.3;TB553(飞机构造与设计)

在线出版日期：2018-04-26（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共8页

页码：195-202