10.3969/j.issn.1007-3264.2009.05.004
一种新型的片内上电复位电路的设计
采用0.5um BiCMOS工艺设计了一种用于电源检测的上电复位电路.本文通过对比传统的上电复位电路,提出了一种结构新颖简单,性能可靠稳定的电路,最后利用Candence的Spectre给出了该电路在C5MC 0.5um工艺模型下的仿真后,结果表明,该电路的起拉电压相对稳定,受上电速率、温度和工艺的影响很小,性能远远优于传统的上电复位电路.
上电复位、电源检测、起拉电压、BiCM06工艺
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TN433(微电子学、集成电路(IC))
陕西省教育厅项目"G比特级数模混合CDR电路关键技术研究及IP核开发"08JK424;国家"863"项目"基于NOC的多处理器片上系统高性能互连技术研究"2007AA01Z111
2009-11-24(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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