热性惊厥儿童的脑电图异常与后期癫痫发生率

摘要：

目的：：观察热性惊厥(FS)儿童的脑电图(EEG)异常与癫痫发生率。方法：102例 FS 患儿根据 EEG检查结果分为 EEG 正常组和 EEG 异常组,比较 EEG 异常组不同部位 EEG 异常率及 FS 患儿后期癫痫发生率。结果：102例 FS 患儿中共有38例(37.25%)EEG 异常,其中弥漫性异常22例(57.89%)、额颞叶区异常9例(23.68%)、顶枕叶区异常7例(18.42%),弥漫性 EEG 异常率明显高于额颞叶区及顶枕叶区 EEG 异常率(χ2=9.20和12.54,P <0.01),经对102例 FS 患儿随访2年,共发现13例(12.75%)发生后期癫痫,均来自 EEG 异常组,其中3例为弥漫性异常(13.64%),8例为额颞叶区异常(88.89%),2例为顶枕叶区异常(28.57%),额颞叶区 EEG 异常FS 患儿后期癫痫发生率高于弥漫性 EEG 异常患儿(χ2=16.11,P <0.01)。结论：额颞叶区 EEG 异常 FS 患儿后期癫痫的发生率较高。

关键词：热性惊厥、脑电图、癫痫

分类号：R741.044;R748(神经病学与精神病学)

在线出版日期：2015-03-25（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：55-58