集成电路可测试性设计与验证

摘要：

文章介绍了集成电路系统芯片（SoC）以及IP核相关理论知识，对DFT集成电路可测试性设计进行了概述，给出了几种常用IC产品的测试方法，并对以后DFT可测试性设计的发展进行了论述；提出了一种基于图像处理的多级滤波芯片DFT测试进行分析，给出了DFT Compiler软件实验验证报告，有效地提高了测试覆盖率。

关键词：集成电路、DFT、边界扫描测试、设计验证

分类号：TP3;S27

在线出版日期：2016-08-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共3页

页码：113-114,132