10.3969/j.issn.1003-3114.2016.06.16
基于三坐标测量机的副反射面测量技术
针对高频反射面天线中对其表面精度要求高的问题,提出了基于三坐标测量机的副反射面测量方案。通过理论分析给出了副反射面测量过程中三坐标测量机的采点方案,将曲面测量转化为曲线测量;讨论了测量数据处理中测头半径补偿和曲线匹配等关键问题,消除了系统误差的影响,提高了测量精度;得到了被测副反射面的表面精度,并用图形表示出来。理论和实验表明该测量方案的有效性。
三坐标测量机、副反射面、表面精度、半径补偿、曲线匹配
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TP391(计算技术、计算机技术)
2016-11-04(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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