支持边界扫描测试的电路设计

摘要：

基于IEEE 1149.1标准制定的边界扫描技术能够对复杂电路进行测试.并诊断出硬件问题.首先介绍了边界扫描测试电路的基本结构,针对基于边界扫描的大规模集成电路的特点,论述了为提高电路板的可测试性而采用边界扫描技术进行设计时应注意的一些基本要点,另外,还给出了能够获得良好测试性设计效果的边界扫描电路的设计方案.

关键词：边界扫描测试、TAP、可测试性设计

所属期刊栏目：35

分类号：TP274(自动化技术及设备)

在线出版日期：2010-01-29（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：42-45