仪表着陆系统辐射场型的场地影响分析

摘要：

基于电磁场的基本原理及其坐标变换,介绍了仪表着陆系统(Instrument Landing system,简称ILS)场地影响的一种分析方法.结合马克-Ⅱ型ILS,计算了场地影响时ILS天线阵的辐射场型,并与理想条件下,天线阵的辐射场型进行了比较与分析.该分析方法对于ILS运行检证及飞行检验具有重要意义.

关键词：仪表着陆系统、场地影响、场型分析

所属期刊栏目：30

分类号：TN92

在线出版日期：2005-10-27（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共3页

页码：31-33