典型GIS设备的X射线数字检测技术研究
应用X-DR技术对典型GIS设备在实验室进行了缺陷模拟及GIS设备实地检测,实现了GIS设备在不解体、不破坏条件下的可视化无损检测.试验表明,X-DR技术可以在现场GIS设备运行的情况下检测出缺陷.
X-DR技术、GIS、可视化、有效性
44
TG115.28(金属学与热处理)
2020-05-11(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
共2页
43-44
点击收藏,不怕下次找不到~
X-DR技术、GIS、可视化、有效性
44
TG115.28(金属学与热处理)
2020-05-11(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
共2页
43-44
国家重点研发计划“现代服务业共性关键技术研发及应用示范”重点专项“4.8专业内容知识聚合服务技术研发与创新服务示范”
国家重点研发计划资助 课题编号:2019YFB1406304
National Key R&D Program of China Grant No. 2019YFB1406304
©天津万方数据有限公司 津ICP备20003920号-1
违法和不良信息举报电话:4000115888 举报邮箱:problem@wanfangdata.com.cn