便携式压电阻抗测试系统研制及应用

摘要：

借助51单片机、AD5933芯片及辅助电路构建了一套便携式电阻抗测试系统.提取电阻抗谱谐振峰频率偏移量作为裂纹长度的定量指标,对一维梁结构上宽度为0.5mm长度从2mm扩展到16mm的裂纹整个过程进行了连续检测.研究结果表明,随着裂纹长度的增大,一维梁结构刚度逐渐降低,频率偏移量逐渐增大.所构建测试系统对于一维梁结构的初始损伤具有很高的灵敏度,对于随后的扩展损伤也能进行有效的检测.

关键词：压电阻抗法、电阻抗测试、PZT传感器、裂纹检测、频率偏移

所属期刊栏目：43

分类号：TG115.28(金属学与热处理)

资助基金：广东省质量技术监督局科技项目:2018CT09

在线出版日期：2019-11-20（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：3-6