相控阵双全法改善缺陷表征

摘要：

与常规技术相比,相控阵超声检测(PAUT)优势凸现:速度快,可靠性好,灵敏度高,分辨力优.应对复杂检测,PAUT总是首选技术.随着计算功效强化,新一代超声设备管控大数据能力优化,”双全”法-全矩阵捕获(FMC)和全聚焦法(TFM)等先进成像技术,应运而生.结合标准许可的方法使用,这些技术可使缺陷表征大为改善.本文即论证相控阵检测与先进成像法相结合,如何为UT日常应用,强化缺陷表征过程.

关键词：超声相控阵检测(PAUT)、全矩阵捕获(FMC)、全聚焦法(TFM)、缺陷表征、成像质量改善

所属期刊栏目：43

分类号：TG115.28(金属学与热处理)

在线出版日期：2019-09-24（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共6页

页码：1-5,48