衍射时差法检测横向缺陷的分析与应用
万方数据知识服务平台
应用市场
我的应用
会员HOT
万方期刊
×

点击收藏,不怕下次找不到~

@万方数据
会员HOT

期刊专题

衍射时差法检测横向缺陷的分析与应用

引用
针对横向缺陷检测的特殊性,提出使用斜置非平行扫查的方法检测横向缺陷.通过理论计算给出缺陷的显示长度与实际长度的换算公式,并通过实际检测时的多角度变换为横向缺陷的识别及测量提供依据.

TOFD、横向缺陷、斜置非平行扫查

41

TG115.28(金属学与热处理)

2017-03-21(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)

42-43,46

相关文献
评论
暂无封面信息
查看本期封面目录

无损探伤

1671-4423

21-1230/TH

41

2017,41(1)

相关作者
相关机构

专业内容知识聚合服务平台

国家重点研发计划“现代服务业共性关键技术研发及应用示范”重点专项“4.8专业内容知识聚合服务技术研发与创新服务示范”

国家重点研发计划资助 课题编号:2019YFB1406304
National Key R&D Program of China Grant No. 2019YFB1406304

©天津万方数据有限公司 津ICP备20003920号-1

信息网络传播视听节目许可证 许可证号:0108284

网络出版服务许可证:(总)网出证(京)字096号

违法和不良信息举报电话:4000115888    举报邮箱:problem@wanfangdata.com.cn

举报专区:https://www.12377.cn/

客服邮箱:op@wanfangdata.com.cn